[1] V Ramachandran, AR Smith, RM Feenstra, J. Vac. Sci. Technol. A 17, 1289-1293 (1999). [text citation]
[2] V. M. Torres, J. L. Edwards, B. J. Wilkens, D. J. Smith, R. B. Doak, I. S. T. Tsong, Appl. Phys. Lett. 74, 985 (1999). [text citation]
[3] Q. Z. Xue, Q. K. Xue, Y. Hasegawa, I. S. T. Tsong, T. Sakurai, Appl. Phys. Lett. 74, 2468 (1999). [text citation]
[4] R. Lantier, A. Rizzi, D. Guggi, H. Luth, B. Neubauer, D. Gerthsen, S. Frabboni, G. Coli, R. Cingolani, MRS Internet J. Nitride Semicond. Res. 4S1, G3.50 (1999). [text citation]
[5] O. Brandt, R. Muralidharan, P. Waltereit, A. Thamm, A. Trampert, H. von Kiedrowski, K. H. Ploog, Appl. Phys. Lett. 75, 4019 (1999). [text citation]
[6] M. H. Xie, L. X. Zheng, S. H. Cheung, Y. F. Ng, H. Wu, S. Y. Tong, N. Ohtani, Appl. Phys. Lett. 77, 1105 (2000). [text citation]
[7] C. D. Lee, V. Ramachandran, A. Sagar, R. M. Feenstra, D. W. Greve, W. L. Sarney, L. Salamanca-Riba, D. C. Look, S. Bai, W. J. Choyke, R. P. Devaty, J. Electron. Mater. 30, 162 (2001). [text citation]
[8] V Ramachandran, MF Brady, AR Smith, RM Feenstra, DW Greve, J. Electron. Mater. 27, 308-312 (1998). [text citation]
[9] A. R. Smith, R. M. Feenstra, D. W. Greve, M. S. Shin, M. Skowronski, J. Neugebauer, J. E. Northrup, Appl. Phys. Lett. 72, 2114-2116 (1998). [text citation]
[10] C. D. Lee, A. Sagar, R. M. Feenstra, W. L. Sarney, L. Salamanca-Riba, J. W. P. Hsu, Phys. Stat. Sol. A 188, 595 (2001). [text citation]
[11] A. R. Smith, V. Ramachandran, R. M. Feenstra, D. W. Greve, A. Ptak, T. Myers, W. Sarney, L. Salamanca-Riba, M. Shin, M. Skowronski, MRS Internet J. Nitride Semicond. Res. 3, 12 (1998). [text citation]
[12] B. Heying, R. Averbeck, L. F. Chen, E. Haus, H. Riechert, J. S. Speck, J. Appl. Phys. 88, 1855 (2000). [text citation]
[13] M. A. Lutz, R. M. Feenstra, P. M. Mooney, J. Tersoff, J. O. Chu, Surf. Sci. Lett 316, L1075 (1994). [text citation]
[14] C. D. Lee, A. Sagar, R. M. Feenstra, C. K. Inoki, T. S. Kuan, W. L. Sarney, L. Salamanca-Riba, Appl. Phys. Lett. 79, 3248 (2001). [text citation]
[15] D. Monroe, Y. H. Xie, E. A. Fitzgerald, P. J. Silverman, G. P. Watson, J. Vac. Sci. Technol. B 11, 1731 (1993). [text citation]
© 2002 The Materials Research Society