[1] D. Korakakis, K. F. Ludwig, T. D. Moustakas, Appl. Phys. Lett. 72, 1004 (1998). [text citation]
[2] K. C. Zeng, J. Y. Lin, H. X. Jiang, A. Salvador, G. Popovici, H. Tang, W. Kim, H. Morkoc, Appl. Phys. Lett. 71, 1368 (1997). [text citation]
[3] M. A. L. Johnson, Shizuo Fujita, W. H. Rowland, K. A. Bowers, W. C. Hughes, Y. W. He, N. A. El-Masry, J. W. Cook, J. F. Schetzina , J. Ren, J. A. Edmond , J. Vac. Sci. Technol. B 14, 2349-2353 (1996). [text citation]
[4] N. Grandjean, J. Massies, Appl. Phys. Lett. 73, 1260 (1998). [text citation]
[5] J. S. Im, H. Kollmer, J. Off, A. Sohmer, F. Scholz, A. Hangleiter, Phys. Rev. B 57, R9435 (1998). [text citation]
[6] A. D. Bykhovski, B. L. Gelmont, M. S. Shur, J. Appl. Phys. 81, 6332 (1997). [text citation]
[7] EJ Tarsa, B Heying, XH Wu, P Fini, et al., J. Appl. Phys. 82, 5472-5479 (1997). [text citation]
[8] C. Kisielowski, J. Krüger, S. Ruvimov, T. Suski, J. W. Ager, E. Jones, Z. Lilienthal-Weber, M. Rubin, M. D. Bremser, R. F. Davis, Phys. Rev. B 54, 17745 (1996). [text citation]
[9] LE Mcneil, M Grimsditch, RH French, J. Am. Ceram. Soc. 76, 1132-1136 (1993). [text citation]
© 1998 The Materials Research Society